電阻測量設備選型指南-日本napson電阻測量儀器

Napson制造和銷售接觸式和非接觸式電阻測量設備。我們將介紹這兩種類型的電阻測量方法的優(yōu)缺點。（*由典型的四探針法和渦流法描述。其他一些測量方法有所不同。）

每種測量方法的優(yōu)缺點（接觸式和非接觸式）

接觸式和非接觸式電阻測量的特點

按測量原理：薄層電阻測量范圍（參考材料）

*脈沖電壓激勵方法：由千葉大學聯(lián)合開發(fā)（已獲得號5386394）
*電暈放電方法：由Yamagata大學聯(lián)合開發(fā)（已獲得5510629）
*以上測量范圍是它是文檔創(chuàng)建時的大概數(shù)字。由于技術進步，如有更改，恕不另行通知。

定制示例-電阻測量儀（非接觸，接觸）

憑借完整的產(chǎn)品陣容和定制支持，
可以*根據(jù)客戶的要求進行安裝。

在Napson，我們積累了豐富的專業(yè)知識，可根據(jù)許多安裝記錄來優(yōu)化客戶研究設施和質(zhì)量控制設施中使用的內(nèi)容，并擁有完整的產(chǎn)品陣容。我們也應客戶的要求接受定制。請先與我們聯(lián)系。我們將提供醉適合您要求的設備。

定制案例

納普森的優(yōu)勢

1個
靈活的設備定制，以滿足客戶需求
“我想將此功能添加到此設備”，“我想從標準規(guī)格中更改測量范圍”等。如果您想自定義產(chǎn)品，請首先讓我們知道您的要求。我們會根據(jù)測量方法和被測物體的用途來響應功能的增加。
2
所有設備均為日本制造，具有響應能力，因為它是國內(nèi)制造商
我們在日本（千葉縣）的自己的工廠中進行從設備開發(fā)到設計（包括軟件）和制造的所有工作，并實現(xiàn)高品質(zhì)和高可靠性測量設備的開發(fā)和制造。
（*設備中的某些加工產(chǎn)品已外包給外部合作伙伴公司）
3
完善的權球支持系統(tǒng)
除了我們在日本的支持系統(tǒng)外，我們還與來自亞洲（韓國，中國，中國臺灣，新加坡），歐洲（法國，德國，英國）和美國（美國馬薩諸塞州）的權球合作伙伴建立了完善的權球支持系統(tǒng)。我們正在建造。
四個
在日本和海外，硅晶片和FPD行業(yè)的份額超過80％*。
我們贏得了與硅相關，液晶，太陽能電池和LED等各個行業(yè)的客戶的深刻信任，并且我們在日本硅晶片行業(yè)的銷售份額超過80％* [4探針法測量儀器]，包括液晶在內(nèi)的權球平板工業(yè)（薄膜測量）的銷售份額在權球超過80％* （*截至2014年）。
五
在日本（千葉縣）的工廠進行示范/樣品測量和設備參觀的信息
各種演示設備詠玖安裝在我們的千葉技術中心（*某些目錄標準規(guī)格）。您可以在交付之前和檢查階段檢查對象的測量數(shù)據(jù)和規(guī)格的詳細信息。“客戶物體的實際測量結果是什么？”，“設備的實際使用感覺和安裝尺寸是什么？” 請隨時與我們聯(lián)系。

設備陣容

設備選擇與開發(fā)，測量方法建議，設備定制

您可以從2種測量方法（接觸/非接觸）和5種類型的設備（全自動，半自動，手動，手持，在線）中選擇合適的設備。除了電阻測量之外，我們還有一系列PN判斷，平坦度，壽命，TCR（溫度控制機制）和擴展電阻測量系統(tǒng)。

*此目錄中列出的設備僅為示例。我們在制造全訂單/定制設備方面也取得了許多成就。

設備陣容

提案流程和測量裝置選擇方法介紹

在這里，我們將在收到查詢后介紹從產(chǎn)品選擇到介紹的流程。Napson的電阻測量裝置不僅適用于半導體，太陽能電池，平板（液晶面板等），而且還充分利用了自公司成立以來所積累的電阻測量知識和相關測量技術。它還用于分析和質(zhì)量控制新材料（例如石墨烯，例如LED材料和化合物半導體）的質(zhì)量。